Defining and Analysing the Optical Properties of Materials at the Nanoscale. A Collection of Thoughts, Opinions, Ideas and Data that Have Matured Over Years on Exploiting Ellipsometry for a Range of Characterisation Needs. [a NanoCharM Publication].

Losurdo, Maria and [Hrsg.];

Verlag: Ohne Ort, Gesellschaft für Mikro- und Nanoelektronik,, 2010
Sprache: Englisch
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