Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits

Sprache: Englisch

Verlag: Springer, 2007

0387465464 / 9780387465463

Serie: Buch 18 von 40 - Frontiers in Electronic Testing

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This book is essential to understand new test methodologies, algorithms and industrial practices. Without its insight into the physics of nano-metric technologies, it would be difficult to develop system-level test strategies that yield a high IC fault coverage. The work on defect-oriented testing presented in the book is not final, and it is an evolving field with interesting challenges imposed by the ever-changing nature of nano-metric technologies. The 2nd edition of Defect Oriented Testing has been extensively updated with the addition of chapters on Functional, Parametric Defect Models and Inductive fault Analysis and Yield Engineering to provide a link between defect sources and yield. Test and design practitioners from academia and industry will find that Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits lays the foundations for further pioneering work. Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 642.

Titel
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Autor
Manoj Sachdev, Jos? Pineda de Gyvez
Verlag
Springer
Erscheinungsjahr
2007
Zustand
Neu
Einband
Gebundene Ausgabe
Sprache
Englisch
ISBN-10
0387465464
ISBN-13
9780387465463
Auflage
2. Auflage
Artikelgewicht
642 Gramm
Serie
Buch 18 von 40: Frontiers in Electronic Testing

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