From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss

Sprache: Englisch

Verlag: Springer, 2011

146128595X / 9781461285953

Serie: Buch 28 von 40 - Frontiers in Electronic Testing

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Artikelbeschreibung vom Verkäufer

: A lo largo de los años, ha habido un gran aumento en la funcionalidad disponible en un solo circuito integrado. Esto se ha logrado principalmente mediante un impulso continuo hacia tamaños de características más pequeños, matrices más grandes y una mejor eficiencia de empaquetado. Sin embargo, esta mayor funcionalidad también ha resultado en aumentos sustanciales en la inversión de capital necesaria para construir instalaciones de fabricación. Dada una inversión tan alta, es fundamental para los fabricantes de circuitos integrados reducir los costos de fabricación y obtener un mejor retorno de su inversión. El método más obvio para reducir el costo de fabricación por matriz es mejorar el rendimiento de fabricación. La investigación e ingeniería modernas de VLSI (que incluyen el diseño, la fabricación y las pruebas) abarcan una gama muy amplia de disciplinas como la química, la física, la ciencia de los materiales, el diseño de circuitos, las matemáticas y la informática. Debido a esta diversidad, el campo de VLSI se ha fracturado en una serie de subdominios separados con poca o ninguna interacción entre ellos. Este es el caso de las relaciones entre las pruebas y la fabricación. De la contaminación a los defectos, las fallas y la pérdida de rendimiento: la simulación y las aplicaciones se centra en el núcleo de la interfaz entre la fabricación y las pruebas, es decir, la relación contaminación-defecto-falla. La comprensión de esta relación puede conducir a mejores soluciones de muchos problemas de fabricación y pruebas. Se desarrollan y presentan modelos de mecanismos de falla que se pueden utilizar para estimar con precisión la probabilidad de diferentes fallas para un circuito integrado dado. Esta información es fundamental para resolver aplicaciones clave relacionadas con el rendimiento, como el análisis de fallas, el modelado de fallas y la fabricación de diseños. EAN: 9781461285953 Tipo: Libros Categoría: Tecnología Título: From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss Autor: Jitendra B. Khare Idioma: eng Páginas: 168 Formato: Tapa blanda.

Bestandsnummer des Verkäufers Happ-2026-07-02-462e3e07

Titel
From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss
Autor
Jitendra B. Khare
Verlag
Springer
Veröffentlichungsjahr
2011
Zustand
Bueno
Einband
Softcover
Sprache
Englisch
ISBN-10
146128595X
ISBN-13
9781461285953
Serie
Buch 28 von 40: Frontiers in Electronic Testing

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