Neuware -As a result of the advancements in algorithms and the huge increase in speed of computers over the past decade, electronic structure calculations have evolved into a valuable tool for characterizing surface species and for elucidating the pathways for their formation and reactivity. It is also now possible to calculate, including electric field effects, STM images for surface structures. To date the calculation of such images has been dominated by density functional methods, primarily because the computational cost of - curate wave-function based calculations using either realistic cluster or slab models would be prohibitive. DFT calculations have proven especially valuable for elucidating chemical processes on silicon and other semiconductor surfaces. However, it is also clear that some of the systems to which DFT methods have been applied have large non-dynamical correlation effects, which may not be properly handled by the current generation of Kohn-Sham-based density functionals. For example, our CASSCF calculations on the Si(001)/acetylene system reveal that at some geometries there is extensive 86 configuration mixing. This, in turn, could signal problems for DFT cal- lations on these systems. Some of these problem systems can be addressed using ONIOM or other �layering� methods, treating the primary region of interest with a CASMP2 or other multireference-based method, and treating the secondary region by a lower level of electronic structure theory or by use of a molecular mechanics method. ACKNOWLEDGEMENTS We wish to thank H. J�nsson, C. Sosa, D. Sorescu, P. Nachtigall, and T. -C.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 384 pp. Englisch.

Bestandsnummer des Verk�ufers 9781402017674

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Bibliografische Details

Titel: Computational Materials Chemistry
Verlag: Springer Netherlands, Springer Netherlands Mai 2004
Erscheinungsjahr: 2004
Sprache: Englisch
ISBN-10: 1402017677
ISBN-13: 9781402017674
Einband: Buch
Zustand: Neu
Abmessungen: Breite: 241 mm, H�he: 160 mm, Tiefe: 26 mm
Gewicht: 740 Gramm

�ber diesen Titel

Inhaltsangabe

As a result of the advancements in algorithms and the huge increase in speed of computers over the past decade, electronic structure calculations have evolved into a valuable tool for characterizing surface species and for elucidating the pathways for their formation and reactivity. It is also now possible to calculate, including electric field effects, STM images for surface structures. To date the calculation of such images has been dominated by density functional methods, primarily because the computational cost of - curate wave-function based calculations using either realistic cluster or slab models would be prohibitive. DFT calculations have proven especially valuable for elucidating chemical processes on silicon and other semiconductor surfaces. However, it is also clear that some of the systems to which DFT methods have been applied have large non-dynamical correlation effects, which may not be properly handled by the current generation of Kohn-Sham-based density functionals. For example, our CASSCF calculations on the Si(001)/acetylene system reveal that at some geometries there is extensive 86 configuration mixing. This, in turn, could signal problems for DFT cal- lations on these systems. Some of these problem systems can be addressed using ONIOM or other "layering" methods, treating the primary region of interest with a CASMP2 or other multireference-based method, and treating the secondary region by a lower level of electronic structure theory or by use of a molecular mechanics method. ACKNOWLEDGEMENTS We wish to thank H. J�nsson, C. Sosa, D. Sorescu, P. Nachtigall, and T. -C.

Rese�a del editor

As a result of the advancements in algorithms and the huge increase in speed of computers over the past decade, electronic structure calculations have evolved into a valuable tool for characterizing surface species and for elucidating the pathways for their formation and reactivity. It is also now possible to calculate, including electric field effects, STM images for surface structures. To date the calculation of such images has been dominated by density functional methods, primarily because the computational cost of - curate wave-function based calculations using either realistic cluster or slab models would be prohibitive. DFT calculations have proven especially valuable for elucidating chemical processes on silicon and other semiconductor surfaces. However, it is also clear that some of the systems to which DFT methods have been applied have large non-dynamical correlation effects, which may not be properly handled by the current generation of Kohn-Sham-based density functionals. For example, our CASSCF calculations on the Si(001)/acetylene system reveal that at some geometries there is extensive 86 configuration mixing. This, in turn, could signal problems for DFT cal- lations on these systems. Some of these problem systems can be addressed using ONIOM or other “layering” methods, treating the primary region of interest with a CASMP2 or other multireference-based method, and treating the secondary region by a lower level of electronic structure theory or by use of a molecular mechanics method. ACKNOWLEDGEMENTS We wish to thank H. J�nsson, C. Sosa, D. Sorescu, P. Nachtigall, and T. -C.

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Um Ihr Widerrufsrecht auszu�ben, m�ssen Sie uns, buchversandmimpf2000, Ober�lschnitz 16, 95517, Emtmannsberg, BAYE, DEU, DEU 09209-2023188, mittels einer eindeutigen Erkl�rung (z.B. ein mit der Post versandter Brief, Telefax oder E-Mail) �ber Ihren Entschluss, diesen Vertrag zu widerrufen, informieren. Sie k�nnen daf�r das beigef�gte Muster-Widerrufsformular verwenden, das jedoch nicht vorgeschrieben ist. Sie k�nnen auch eine andere eindeutige Erkl�rung auf der Webseite "Meine Bestellungen" in Ihrem "Nutzerkonto" elektronisch ausf�llen und �bermitteln. Machen Sie von dieser M�glichkeit Gebrauch, so werden wir Ihnen unverz�glich (z. B. per E-Mail) eine Best�tigung �ber den Eingang eines solchen Widerrufs �bermitteln. Zur Wahrung der Widerrufsfrist reicht es aus, dass Sie die Mitteilung �ber die Aus�bung des Widerrufsrechts vor Ablauf der Widerrufsfrist absenden.

Folgen des Widerrufs

Wenn Sie diesen Vertrag widerrufen, haben wir Ihnen alle Zahlungen, die wir von Ihnen erhalten haben, einschlie�lich der Lieferkosten (mit Ausnahme der zus�tzlichen Kosten, die sich daraus ergeben, dass Sie eine andere Art der Lieferung als die von uns angebotene, g�nstigste Standardlieferung gew�hlt haben), unverz�glich und sp�testens binnen vierzehn Tagen ab dem Tag zur�ckzuzahlen, an dem die Mitteilung �ber Ihren Widerruf dieses Vertrags bei uns eingegangen ist. F�r diese R�ckzahlung verwenden wir dasselbe Zahlungsmittel, das Sie bei der urspr�nglichen Transaktion eingesetzt haben, es sei denn, mit Ihnen wurde ausdr�cklich etwas anderes vereinbart; in keinem Fall werden Ihnen wegen dieser R�ckzahlung Entgelte berechnet. Wir k�nnen die R�ckzahlung verweigern, bis wir die Waren wieder zur�ckerhalten haben oder bis Sie den Nachweis erbracht haben, dass Sie die Waren zur�ckgesandt haben, je nachdem, welches der fr�here Zeitpunkt ist. Sie haben die Waren unverz�glich und in jedem Fall sp�testens binnen vierzehn Tagen ab dem Tag, an dem Sie uns �ber den Widerruf dieses Vertrags unterrichten, an buchversandmimpf2000, Ober�lschnitz 16, 95517, Emtmannsberg, BAYE, DEU, 49 09209-2023188, zur�ckzusenden oder zu �bergeben. Die Frist ist gewahrt, wenn Sie die Waren vor Ablauf der Frist von vierzehn Tagen absenden.

Sie tragen die unmittelbaren Kosten der R�cksendung der Waren. Sie m�ssen f�r einen etwaigen Wertverlust der Waren nur aufkommen, wenn dieser Wertverlust auf einen zur Pr�fung der Beschaffenheit, Eigenschaften und Funktionsweise der Waren nicht notwendigen Umgang mit ihnen zur�ckzuf�hren ist.

Ausnahmen vom Widerrufsrecht

Das Widerrufsrecht besteht nicht bzw. erlischt bei folgenden Vertr�gen:

Zur Lieferung von Zeitungen und Zeitschriften oder Illustrierten, mit Ausnahme von Abonnement Vertr�gen;
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