CCD Image Sensors in Deep-Ultraviolet. Degradation Behavior and Damage Mechanisms.

Buch 1 von 17: Microtechnology and MEMS

Li, F.M.; A. Nathan

ISBN 10: 354022680X ISBN 13: 9783540226802
Verlag: Berlin, Springer., 2005
Sprache: Englisch
Zustand: Gebraucht Hardcover

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