Beam Diagnostics in Superconducting Accelerating Cavities: The Extraction of Transverse Beam Position from Beam-Excited Higher Order Modes

Zhang, Pei (Author)

ISBN 10: 3319007580 ISBN 13: 9783319007588
Verlag: Springer, 2013
Sprache: Englisch
Neu Zustand: Brand New Hardcover

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