Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy

Sprache: Englisch

Verlag: Springer US, 1995

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Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - The first U. S. Army Natick Research, Development and Engineering Center Atomic Force/Scanning Tunneling Microscopy (AFM/STM) Symposium was held on lune 8-10, 1993 in Natick, Massachusetts. This book represents the compilation of the papers presented at the meeting. The purpose ofthis symposium was to provide a forum where scientists from a number of diverse fields could interact with one another and exchange ideas. The various topics inc1uded application of AFM/STM in material sciences, polymers, physics, biology and biotechnology, along with recent developments inc1uding new probe microscopies and frontiers in this exciting area. The meeting's format was designed to encourage communication between members of the general scientific community and those individuals who are at the cutting edge of AFM, STM and other probe microscopies. It immediately became clear that this conference enabled interdisciplinary interactions among researchers from academia, industry and government, and set the tone for future collaborations. Expert scientists from diverse scientific areas including physics, chemistry, biology, materials science and electronics were invited to participate in the symposium. The agenda of the meeting was divided into three major sessions. In the first session, Biological Nanostructure, topics ranged from AFM ofDNA to STM imagmg ofthe biomoleeule tubulin and bacterialluciferase to the AFM of starch polymer double helices to AFM imaging of food surfaces.…

Bestandsnummer des Verkäufers 9780306448904

Titel
Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy
Autor
Samuel H. Cohen
Verlag
Springer US
Erscheinungsjahr
1995
Zustand
Neu
Einband
Buch
Sprache
Englisch
ISBN-10
0306448904
ISBN-13
9780306448904
Artikelgewicht
812 Gramm
Abmessungen
241x160x30 mm

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