Applied Scanning Probe Methods II : Scanning Probe Microscopy Techniques

Sprache: Englisch

Verlag: Springer, 2006

3540262423 / 9783540262428

Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, DeutschlandAHA-BUCH GmbH

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Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - The Nobel Prize of 1986 on Sc- ningTunnelingMicroscopysignaled a new era in imaging. The sc- ning probes emerged as a new - strument for imaging with a p- cision suf cient to delineate single atoms. At rst there were two - the Scanning Tunneling Microscope, or STM, and the Atomic Force Mic- scope, or AFM. The STM relies on electrons tunneling between tip and sample whereas the AFM depends on the force acting on the tip when it was placed near the sample. These were quickly followed by the M- netic Force Microscope, MFM, and the Electrostatic Force Microscope, EFM. The MFM will image a single magnetic bit with features as small as 10nm. With the EFM one can monitor the charge of a single electron. Prof. Paul Hansma at Santa Barbara opened the door even wider when he was able to image biological objects in aqueous environments. At this point the sluice gates were opened and a multitude of different instruments appeared. There are signi cant differences between the Scanning Probe Microscopes or SPM, and others such as the Scanning Electron Microscope or SEM. The probe microscopes do not require preparation of the sample and they operate in ambient atmosphere, whereas, the SEM must operate in a vacuum environment and the sample must be cross-sectioned to expose the proper surface. However, the SEM can record 3D image and movies, features that are not available with the scanning probes.…

Bestandsnummer des Verkäufers 9783540262428

Titel
Applied Scanning Probe Methods II : Scanning Probe Microscopy Techniques
Autor
Bharat Bhushan
Verlag
Springer
Erscheinungsjahr
2006
Zustand
Neu
Einband
Buch
Sprache
Englisch
ISBN-10
3540262423
ISBN-13
9783540262428
Artikelgewicht
863 Gramm
Abmessungen
241x160x31 mm

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