Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - The Nobel Prize of 1986 on Sc- ning Tunneling Microscopy sig- led a new era in imaging. The sc- ning probes emerged as a new i- trument for imaging with a pre- sion suf cient to delineate single atoms. At rst there were two - the Scanning Tunneling Microscope, or STM, and the Atomic Force Mic- scope, or AFM. The STM relies on electrons tunneling between tip and sample whereas the AFM depends on the force acting on the tip when it was placed near the sample. These were quickly followed by the - gneticForceMicroscope,MFM,and the Electrostatic Force Microscope, EFM. The MFM will image a single magnetic bit with features as small as 10nm. With the EFM one can monitor the charge of a single electron. Prof. Paul Hansma at Santa Barbara opened the door even wider when he was able to image biological objects in aqueous environments. At this point the sluice gates were opened and a multitude of different instruments appeared. There are signi cant differences between the Scanning Probe Microscopes or SPM, and others such as the Scanning Electron Microscope or SEM. The probe microscopes do not require preparation of the sample and they operate in ambient atmosphere, whereas, the SEM must operate in a vacuum environment and the sample must be cross-sectioned to expose the proper surface. However, the SEM can record 3D image and movies, features that are not available with the scanning probes.

Bestandsnummer des Verk�ufers 9783642065965

Verk�ufer kontaktieren

Diesen Artikel melden

Bibliografische Details

Titel: Applied Scanning Probe Methods III : Characterization
Verlag: Springer Berlin Heidelberg
Erscheinungsjahr: 2010
Sprache: Englisch
ISBN-10: 3642065961
ISBN-13: 9783642065965
Einband: Taschenbuch
Zustand: Neu
Abmessungen: Breite: 235 mm, H�he: 155 mm, Tiefe: 23 mm
Gewicht: 639 Gramm

�ber diesen Titel

Inhaltsangabe

The Nobel Prize of 1986 on Sc- ning Tunneling Microscopy sig- led a new era in imaging. The sc- ning probes emerged as a new i- trument for imaging with a pre- sion suf?cient to delineate single atoms. At ?rst there were two – the Scanning Tunneling Microscope, or STM, and the Atomic Force Mic- scope, or AFM. The STM relies on electrons tunneling between tip and sample whereas the AFM depends on the force acting on the tip when it was placed near the sample. These were quickly followed by the - gneticForceMicroscope,MFM,and the Electrostatic Force Microscope, EFM. The MFM will image a single magnetic bit with features as small as 10nm. With the EFM one can monitor the charge of a single electron. Prof. Paul Hansma at Santa Barbara opened the door even wider when he was able to image biological objects in aqueous environments. At this point the sluice gates were opened and a multitude of different instruments appeared. There are signi?cant differences between the Scanning Probe Microscopes or SPM, and others such as the Scanning Electron Microscope or SEM. The probe microscopes do not require preparation of the sample and they operate in ambient atmosphere, whereas, the SEM must operate in a vacuum environment and the sample must be cross-sectioned to expose the proper surface. However, the SEM can record 3D image and movies, features that are not available with the scanning probes.

Cr�ticas

From the reviews:

"The editors have done a good job in making the various chapters quite readable and most of the chapters are well written on a level that will be accessible to most readers. ... As is usually the case with Springer books, these volumes have been beautifully printed, illustrated, and nicely bound for long term durability." (Gary J. Long & Fernande Grandjean, Physicalia Magazine, Vol. 29 (4), 2007

��ber diesen Titel� kann sich auf eine andere Ausgabe dieses Titels beziehen.

Anbieterinformationen

Das Unternehmen AHA-BUCH GmbH: Seit der Gr�ndung von AHA-BUCH im Juli 2005 ist unser Hauptziel, zufriedenen Kunden so schnell und so preisg�nstig wie m�glich ihren B�cherwunsch zu erf�llen. Unsere Firma besch�ftigt 16 Mitarbeiter, die nur ein Ziel kennen: den Kunden und seine W�nsche! Auf �ber 3700 m2 Fl�che haben wir �ber 100.000 B�cher, Modernes Antiquariat und Spiele auf Lager.

Zur Homepage des Verk�ufers

Unternehmensdaten des Verk�ufers

AHA-BUCH GmbH
Garlebsen 48, Einbeck, 37574, Germany

Gesch�ftsbedingungen und Versandinformationen

Verkaufsbedingungen

Allgemeine Gesch�ftsbedingungen und Kundeninformationen / Datenschutzerkl�rung

I. Allgemeine Gesch�ftsbedingungen

� 1 Grundlegende Bestimmungen

(1) Die nachstehenden Gesch�ftsbedingungen gelten f�r alle Vertr�ge, die Sie mit uns als Anbieter (AHA-BUCH GmbH) �ber die Internetplattformen AbeBooks und/oder ZVAB schlie�en. Soweit nicht anders vereinbart, wird der Einbeziehung gegebenenfalls von Ihnen verwendeter eigener Bedingungen widersprochen.

(2) Verbraucher im Sinne der nachstehenden Regelungen...

Mehr Information

Widerrufsbelehrung

Versandbedingungen

Wir liefern Lagerartikel innerhalb von 24 Stunden nach Erhalt der Bestellung aus.
Barsortimentsartikel, die wir �ber Nacht geliefert bekommen, am darauffolgenden Werktag.
Unser Ziel ist es Ihnen die Artikel in der �konomischten und effizientesten Weise zu senden.

Versandkosten innerhalb von Deutschland

Versandkosten innerhalb von Deutschland
Bestellmenge	1 bis 2�Werktage	1 bis 2�Werktage
Erster Artikel	EUR 0.00	EUR 4.50

Die Versandzeiten werden von den Verk�uferinnen und Verk�ufern festgelegt. Sie variieren je nach Versanddienstleister und Standort. Sendungen, die den Zoll passieren, k�nnen Verz�gerungen unterliegen. Eventuell anfallende Abgaben oder Geb�hren sind von der K�uferin bzw. dem K�ufer zu tragen. Die Verk�uferin bzw. der Verk�ufer kann Sie bez�glich zus�tzlicher Versandkosten kontaktieren, um einen m�glichen Anstieg der Versandkosten f�r Ihre Artikel auszugleichen.

Impressum & Info zum Verk�ufer