VIII, 300 Seiten mit 154 Abb. und 20 Tab.; 25 cm. Guter Zustand. Bibliotheksexemplar mit Stempeln und Signatur auf Einband. Sonst Seiten sauber. / Good. Ex-library with usual markings. Clean pages. Sprache: Deutsch Gewicht in Gramm: 770.

Bestandsnummer des Verk�ufers 841977

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Bibliografische Details

Titel

Angewandte Oberfl�chenanalyse mit SIMS (Sekund�r-Ionen-Massenspektrometrie), AES (Auger-Elektronen-Spektrometrie), XPS (R�ntgen-Photoelektronen-Spektrometrie).

Verlag

Berlin etc.: Springer

Erscheinungsjahr

1986

Sprache

Deutsch

Einband

Hardcover/Pappeinband.

Zustand

Gut

Verk�uferkataloge

Chemie

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