Advances in Imaging and Electron Physics, Volume 153: Aberration-corrected microscopy (Advances in Imaging and Electron Physics)

Buch 27 von 77: ISSN

Hawkes, Peter W. (Editor)/ Mulvey, Tom (Editor)/ Kazan, Benjamin (Editor)

ISBN 10: 012374220X ISBN 13: 9780123742209
Verlag: Academic Press, 2008
Sprache: Englisch
Zustand: Neu Hardcover

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