Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

Echlin, Patrick; Fiori, C.E.; Goldstein, Joseph; Joy, David C.; Newbury, Dale E.

ISBN 10: 1475790295 ISBN 13: 9781475790290
Verlag: Springer, 2013
Sprache: Englisch
Zustand: Neu Softcover

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