Active Probe Atomic Force Microscopy: A Practical Guide on Precision Instrumentation

Xia, Fangzhou; Rangelow, Ivo W.; Youcef-Toumi, Kamal

ISBN 10: 3031442326 ISBN 13: 9783031442322
Verlag: Springer, 2024
Sprache: Englisch
Zustand: Neu Hardcover

Verkauft von Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich

AbeBooks-Verkäufer seit 19. Januar 2007

Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen 4 Sterne, Erfahren Sie mehr über Verkäufer-Bewertungen

Alle Artikel dieses Verkäufers anzeigen


Neu - Hardcover

Zustand: Neu

Preis:
EUR 88,65
EUR 7,53 Versand
Versand von Vereinigtes Königreich nach USA

Anzahl: 1 verfügbar

In den Warenkorb legen