VLSI Design and Test: 23rd International Symposium, VDAT 2019, Indore, India, July 4–6, 2019, Revised Selected Papers: 1066 (Communications in Computer and Information Science) - Softcover
Inhaltsangabe
This book constitutes the refereed proceedings of the 23st International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2019, held in Indore, India, in July 2019.
The 63 full papers were carefully reviewed and selected from 199 submissions. The papers are organized in topical sections named: analog and mixed signal design; computing architecture and security; hardware design and optimization; low power VLSI and memory design; device modelling; and hardware implementation.
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VLSI Design and Test. 23rd International Symposium, VDAT 2019, Indore, India, July 4-6, 2019. Revised Selected Papers.
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XVI, 775 p. Softcover. Versand aus Deutschland / We dispatch from Germany via Air Mail. Einband bestoßen, daher Mängelexemplar gestempelt, sonst sehr guter Zustand. Imperfect copy due to slightly bumped cover, apart from this in very good condition. Stamped. Communications in Computer Information Science, 1066. Sprache: Englisch. Artikel-Nr. 10286GB
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VLSI Design and Test : 23rd International Symposium, VDAT 2019, Indore, India, July 4¿6, 2019, Revised Selected Papers
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Springer Nature Singapore, 2019
ISBN 10: 9813297662
ISBN 13: 9789813297661
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Zustand: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 792 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | This book constitutes the refereed proceedings of the 23st International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2019, held in Indore, India, in July 2019. The 63 full papers were carefully reviewed and selected from 199 submissions. The papers are organized in topical sections named: analog and mixed signal design; computing architecture and security; hardware design and optimization; low power VLSI and memory design; device modelling; and hardware implementation. Artikel-Nr. 35246749/2
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VLSI Design and Test | 23rd International Symposium, VDAT 2019, Indore, India, July 4-6, 2019, Revised Selected Papers
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Taschenbuch. Zustand: Neu. VLSI Design and Test | 23rd International Symposium, VDAT 2019, Indore, India, July 4-6, 2019, Revised Selected Papers | Anirban Sengupta (u. a.) | Taschenbuch | xvi | Englisch | 2019 | Springer | EAN 9789813297661 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu. Artikel-Nr. 116948398
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VLSI Design and Test
ISBN 10: 9813297662
ISBN 13: 9789813297661
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Neuware -This book constitutes the refereed proceedings of the 23st International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2019, held in Indore, India, in July 2019. The 63 full papers were carefully reviewed and selected from 199 submissions. The papers are organized in topical sections named: analog and mixed signal design; computing architecture and security; hardware design and optimization; low power VLSI and memory design; device modelling; and hardware implementation.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 792 pp. Englisch. Artikel-Nr. 9789813297661
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VLSI Design and Test : 23rd International Symposium, VDAT 2019, Indore, India, July 4-6, 2019, Revised Selected Papers
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book constitutes the refereed proceedings of the 23st International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2019, held in Indore, India, in July 2019. The 63 full papers were carefully reviewed and selected from 199 submissions. The papers are organized in topical sections named: analog and mixed signal design; computing architecture and security; hardware design and optimization; low power VLSI and memory design; device modelling; and hardware implementation. Artikel-Nr. 9789813297661
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Vlsi Design and Test: 23rd International Symposium, Vdat 2019, Indore, India, July 46, 2019, Revised Selected Papers
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Paperback. Zustand: Brand New. 792 pages. 9.25x6.10x1.61 inches. In Stock. Artikel-Nr. x-9813297662
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