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Inhaltsangabe
Electron/Ion Optics.- Scanning Electron Microscopy.- Transmission Electron Microscopy.- Scanning Transmission Electron Microscopy (STEM).- Spectroscopy.- Aberration Corrected Transmission Electron Microscopy and Its Applications.- In situ TEM: Theory and Applications.- Helium Ion Microscopy.
Die Inhaltsangabe kann sich auf eine andere Ausgabe dieses Titels beziehen.
- VerlagSpringer
- Erscheinungsdatum2018
- ISBN 10 9811304556
- ISBN 13 9789811304552
- EinbandPaperback
- SpracheEnglisch
- Kontakt zum HerstellerNicht verfügbar
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