Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty - Softcover

Krishnaswamy, Smita; Markov, Igor L.; Hayes, John P.

 
9789048196456: Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty

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Inhaltsangabe

Introduction.- Probabilistic Transfer Matrices.- Computing with Probabilistic Transfer Matrices.- Testing Logic Circuits for Probabilistic Faults.- Signtaure-based Reliability Analysis.- Design for Robustness.- Summary and Extensions.

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ISBN 10:  9048196434 ISBN 13:  9789048196432
Verlag: Springer, 2012
Hardcover