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Nanohärtemessung mit dem Rasterkraftmikroskop. Dissertation. - Softcover

 
9783899590074: Nanohärtemessung mit dem Rasterkraftmikroskop. Dissertation.
Softcover
ISBN 10: 3899590074 ISBN 13: 9783899590074
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Deutsch
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3899590074
ISBN 13 
9783899590074
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Tapa blanda
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Kempf, Markus:
ISBN 10: 3899590074 ISBN 13: 9783899590074
Gebraucht Paperback kart. 15*21 cm

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Paperback kart. 15*21 cm. Zustand: Gut. 160 Seiten altersbedingt guter Zustand, Bibliotheksexemplar 200420839 Sprache: Deutsch Gewicht in Gramm: 300. Artikel-Nr. 212769

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