X-Ray Diffraction by Disordered Lamellar Structures: Theory and Applications to Microdivided Silicates and Carbons - Softcover

Drits, Victor A.; Tchoubar, Cyril

 
9783642748042: X-Ray Diffraction by Disordered Lamellar Structures: Theory and Applications to Microdivided Silicates and Carbons
Softcover
ISBN 10: 364274804X ISBN 13: 9783642748042
Verlag: Springer, 2011

Inhaltsangabe

New methods for the determination of the nature, proportion, and distribution of structural defects in microcrystallized lamellar systems are of utmost importance not only to experimentalists but also to theoreticians. Mathematical formalism - indispensable for such analyses - is well-illustrated by various examples, allowing this method to be easily adopted and even to be applied to other solids with lamellar or pseudo-lamellar structures.

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Verlag
Springer
Erscheinungsdatum
2011
Sprache
Englisch
ISBN 10 
364274804X
ISBN 13 
9783642748042
Einband
Taschenbuch
Anzahl der Seiten
392
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