Elektronen- und Ionenquellen.- A. Elektronenquellen.- I. Elektronenemission, Kathoden.- II. Strahlerzeugungssysteme.- B. Ionenquellen.- I. Ionenerzeugung und Ionenextraktion.- II. G¿te von Ionenquellen.- III. Ionenquellen mit kalten Kathoden.- a) Kanalstrahl-Ionenquellen.- b) Hochfrequenz-Ionenque11en.- c) Penning-Ionenquellen.- IV. Ionenquellen mit Gl¿hkathoden.- a) Bogenentladungs-Ionenquellen.- b) Elektronensto¿uellen.- c) Ionenquellen f¿r Massentrenner.- V. Verschiedene Typen.- Zusammenfassende Literatur ¿ber Elektronenquellen.- Elektronen- und Ionenoptik.- I. Elektronen- und Ionenbewegungen als optisches Problem.- II. Berechnung von Ablenk- und Abbildungsfeldern.- III. Optische Abbildung in rotationssymmetrischen Feldern.- IV. Theorie der geometrischen Aberrationen.- V. Ablenkung von Elektronenstrahlb¿ndeln in elektrischen und magnetischen Ablenksystemen.- VI. Elektronenoptische Systeme mit gekr¿mmter Hauptachse.- VII. Elektronische Abbildung auf Grund der Wellenmechanik.- VIII. Raumladungen.- Literatur.- Elektronenmikroskope.- I. Grundlagen.- a) Objektive.- b) Anordnung und Bestrahlung des Objekts.- c) Beobachtung des Endbildes.- II. Technische Formen.- a) Durchstrahlungsmikroskope.- b) Oberfl¿en abbildende Mikroskope.- c) Technische Anlagen.- III. Theoretische und experimentelle Grenzen.- a) Ger¿edingte Grenzen.- b) Objektbedingte Grenzen.- IV. Aussagen ¿ber das Objekt.- a) Gestalt und Kontrast.- b) Analyse durch Elektronenbeugung.- c) Geschwindigkeitsanalyse.- Bibliographie: A. Zusammenfassende Darstellung ¿ber Elektronenmikroskope.- B. Literaturverzeichnisse.- Massenspektroskopische Apparate.- I. Parabelspektrographen.- II. Richtungsfokussierende massenspektroskopische Apparate kleiner Aufl¿sung (A < 1000).- III. Kombination von elektrischen und magnetischen Ablenkfeldern zu richtungs-, geschwindigkeits- und doppelfokussierenden Apparaten meist hoher Aufl¿sung.- IV. Hochfrequenz-Massenspektrometer.- Literatur.- Beta-Ray Spectroscopes.- I. Introduction.- II. Fundamental principles of beta-ray spectroscopy.- III. Flat spectroscopes.- IV. Lens spectroscopes.- V. Comparison between different types.- VI. Electrostatic field spectroscopes.- VII. High precision beta and gamma-ray spectroscopy.- VIII. Experimental techniques.- IX. Beta-ray spectroscopic technique applied to gamma-ray spectroscopy.- X. Coincidence spectrometers.- Sachverzeichnis (Deutsch-Englisch).- Subject Index (English-German).
Die Inhaltsangabe kann sich auf eine andere Ausgabe dieses Titels beziehen.
Prof. Dr. em. Detlef Kamke, Ruhr-Universität Bochum Prof. Dr. em. Wilhelm Walcher, Universität Marburg
„Über diesen Titel“ kann sich auf eine andere Ausgabe dieses Titels beziehen.
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Zustand: New. In English. Artikel-Nr. ria9783642458545_new
Anzahl: Mehr als 20 verfügbar
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Paperback. Zustand: Brand New. 712 pages. 9.61x6.69x1.61 inches. In Stock. Artikel-Nr. x-3642458548
Anzahl: 2 verfügbar
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Elektronen- und Ionenquellen.- A. Elektronenquellen.- I. Elektronenemission, Kathoden.- II. Strahlerzeugungssysteme.- B. Ionenquellen.- I. Ionenerzeugung und Ionenextraktion.- II. G¿te von Ionenquellen.- III. Ionenquellen mit kalten Kathoden.- a) Kanalstrahl-Ionenquellen.- b) Hochfrequenz-Ionenque11en.- c) Penning-Ionenquellen.- IV. Ionenquellen mit Gl¿hkathoden.- a) Bogenentladungs-Ionenquellen.- b) Elektronensto¿uellen.- c) Ionenquellen f¿r Massentrenner.- V. Verschiedene Typen.- Zusammenfassende Literatur ¿ber Elektronenquellen.- Elektronen- und Ionenoptik.- I. Elektronen- und Ionenbewegungen als optisches Problem.- II. Berechnung von Ablenk- und Abbildungsfeldern.- III. Optische Abbildung in rotationssymmetrischen Feldern.- IV. Theorie der geometrischen Aberrationen.- V. Ablenkung von Elektronenstrahlb¿ndeln in elektrischen und magnetischen Ablenksystemen.- VI. Elektronenoptische Systeme mit gekr¿mmter Hauptachse.- VII. Elektronische Abbildung auf Grund der Wellenmechanik.- VIII. Raumladungen.- Literatur.- Elektronenmikroskope.- I. Grundlagen.- a) Objektive.- b) Anordnung und Bestrahlung des Objekts.- c) Beobachtung des Endbildes.- II. Technische Formen.- a) Durchstrahlungsmikroskope.- b) Oberfl¿en abbildende Mikroskope.- c) Technische Anlagen.- III. Theoretische und experimentelle Grenzen.- a) Ger¿edingte Grenzen.- b) Objektbedingte Grenzen.- IV. Aussagen ¿ber das Objekt.- a) Gestalt und Kontrast.- b) Analyse durch Elektronenbeugung.- c) Geschwindigkeitsanalyse.- Bibliographie: A. Zusammenfassende Darstellung ¿ber Elektronenmikroskope.- B. Literaturverzeichnisse.- Massenspektroskopische Apparate.- I. Parabelspektrographen.- II. Richtungsfokussierende massenspektroskopische Apparate kleiner Aufl¿sung (A < 1000).- III. Kombination von elektrischen und magnetischen Ablenkfeldern zu richtungs-, geschwindigkeits- und doppelfokussierenden Apparaten meist hoher Aufl¿sung.- IV. Hochfrequenz-Massenspektrometer.- Literatur.- Beta-Ray Spectroscopes.- I. Introduction.- II. Fundamental principles of beta-ray spectroscopy.- III. Flat spectroscopes.- IV. Lens spectroscopes.- V. Comparison between different types.- VI. Electrostatic field spectroscopes.- VII. High precision beta and gamma-ray spectroscopy.- VIII. Experimental techniques.- IX. Beta-ray spectroscopic technique applied to gamma-ray spectroscopy.- X. Coincidence spectrometers.- Sachverzeichnis (Deutsch-Englisch).- Subject Index (English-German). Artikel-Nr. 9783642458545
Anzahl: 1 verfügbar
Anbieter: preigu, Osnabrück, Deutschland
Taschenbuch. Zustand: Neu. Optics of Corpuscles / Korpuskularoptik | Detlef Kamke (u. a.) | Taschenbuch | vi | Englisch | 2012 | Springer | EAN 9783642458545 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu. Artikel-Nr. 105390981
Anzahl: 5 verfügbar