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Authored by a pioneer of the field, this overview of charged particle optics provides a solid introduction to the field for all physicists wishing to design their own apparatus or better understand the instruments with which they work. The book begins by introducing electrostatic lenses and fields used for acceleration, focusing and deflection of ions or electrons. Subsequent chapters give detailed descriptions of electrostatic deflection elements, uniform and non-uniform magnetic sector fields, image aberrations, and, finally, fringe field confinement. The book’s wide frame of reference makes this an ideal work for researchers, engineers and graduate students alike.
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Authored by a pioneer of the field, this overview of charged particle optics provides a solid introduction to the field for all physicists wishing to design their own apparatus or better understand the instruments with which they work. Applied Charged Particle Optics begins by introducing electrostatic lenses and fields used for acceleration, focussing and deflection of ions or electrons. Subsequent chapters give detailed descriptions of electrostatic deflection elements, uniform and non-uniform magnetic sector fields, image aberrations, and, finally, fringe field confinement. A chapter on applications is added.
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Applied Charged Particle Optics | Helmut Liebl | Taschenbuch | x | Englisch | 2010 | Springer | EAN 9783642091032 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu. Artikel-Nr. 107175515
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Authored by a pioneer of the field, this overview of charged particle optics provides a solid introduction to the field for all physicists wishing to design their own apparatus or better understand the instruments with which they work. Applied Charged Particle Optics begins by introducing electrostatic lenses and fields used for acceleration, focussing and deflection of ions or electrons. Subsequent chapters give detailed descriptions of electrostatic deflection elements, uniform and non-uniform magnetic sector fields, image aberrations, and, finally, fringe field confinement. A chapter on applications is added. Artikel-Nr. 9783642091032
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