Verwandte Artikel zu Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation...
Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis: 45 (Springer Series in Optical Sciences) - Softcover
Inhaltsangabe
Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.
Die Inhaltsangabe kann sich auf eine andere Ausgabe dieses Titels beziehen.
Von der hinteren Coverseite
Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interations. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.
„Über diesen Titel“ kann sich auf eine andere Ausgabe dieses Titels beziehen.
Neu kaufen
Diesen Artikel anzeigen
EUR 303,13
EUR 5,77 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach Deutschland
Versandziele, Kosten & DauerWeitere beliebte Ausgaben desselben Titels
Suchergebnisse für Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation...
Beispielbild für diese ISBN
Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis (Springer Series in Optical Sciences, 45)
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: New. In. Artikel-Nr. ria9783642083723_new
Anzahl: Mehr als 20 verfügbar
Foto des Verkäufers
Scanning Electron Microscopy : Physics of Image Formation and Microanalysis
Verlag:
Springer Berlin Heidelberg, Springer Berlin Heidelberg, 2010
ISBN 10: 3642083722
ISBN 13: 9783642083723
Neu
Taschenbuch
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information. Artikel-Nr. 9783642083723
Anzahl: 1 verfügbar
Foto des Verkäufers
Scanning Electron Microscopy
ISBN 10: 3642083722
ISBN 13: 9783642083723
Neu
Taschenbuch
Anbieter: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Taschenbuch. Zustand: Neu. Neuware -Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 544 pp. Englisch. Artikel-Nr. 9783642083723
Anzahl: 2 verfügbar