This book presents the physical and technical foundation of the state-of-the-art in applied scanning probe techniques. It constitutes a comprehensive overview of SPM applications. The chapters are written by leading researchers and application scientists.
Die Inhaltsangabe kann sich auf eine andere Ausgabe dieses Titels beziehen.
This book presents the physical and technical foundation of the state of the art in applied scanning probe techniques. It constitutes a timely and comprehensive overview of SPM applications. The chapters in this volume relate to scanning probe microscopy techniques, characterization of various materials and structures and typical industrial applications, including topographic and dynamical surface studies of thin-film semiconductors, polymers, paper, ceramics, and magnetic and biological materials. The chapters are written by leading researchers and application scientists from all over the world and from various industries to provide a broader perspective. With a foreword by the co-inventor of AFM, Christoph Gerber
„Über diesen Titel“ kann sich auf eine andere Ausgabe dieses Titels beziehen.
Anbieter: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, USA
Zustand: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide. Artikel-Nr. ABBB-160461
Anbieter: Buchpark, Trebbin, Deutschland
Zustand: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 956 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Keine Beschreibung verfügbar. Artikel-Nr. 5599023/2
Anzahl: 1 verfügbar
Anbieter: Buchpark, Trebbin, Deutschland
Zustand: Hervorragend. Zustand: Hervorragend | Seiten: 956 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Keine Beschreibung verfügbar. Artikel-Nr. 5599023/1
Anzahl: 1 verfügbar
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
Zustand: Used. pp. 988. Artikel-Nr. 6504470
Anzahl: 1 verfügbar
Anbieter: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Deutschland
Zustand: Used. pp. 988. Artikel-Nr. 181376195
Anzahl: 1 verfügbar
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Zustand: New. In. Artikel-Nr. ria9783642035340_new
Anzahl: Mehr als 20 verfügbar
Anbieter: moluna, Greven, Deutschland
Gebunden. Zustand: New. Scientific reviews on scanning tunneling microscopy and atomic force microscopyIntegrates basic scientific and applicational aspectsWith a foreword by the co-inventor of AFM, Christoph GerberUseful reference to research. Artikel-Nr. 5044027
Anzahl: Mehr als 20 verfügbar
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book presents the physical and technical foundation of the state of the art in applied scanning probe techniques. It constitutes a timely and comprehensive overview of SPM applications. The chapters in this volume relate to scanning probe microscopy techniques, characterization of various materials and structures and typical industrial applications, including topographic and dynamical surface studies of thin-film semiconductors, polymers, paper, ceramics, and magnetic and biological materials. The chapters are written by leading researchers and application scientists from all over the world and from various industries to provide a broader perspective. With a foreword by the co-inventor of AFM, Christoph Gerber. Artikel-Nr. 9783642035340
Anzahl: 2 verfügbar
Anbieter: BUCHSERVICE / ANTIQUARIAT Lars Lutzer, Wahlstedt, Deutschland
Hardcover. Zustand: gut. 2010. Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology In deutscher Sprache. pages. Artikel-Nr. BN360916
Anzahl: 1 verfügbar
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Hardcover. Zustand: Brand New. 956 pages. 9.25x6.00x1.50 inches. In Stock. Artikel-Nr. x-3642035345
Anzahl: 2 verfügbar