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Thin Film Analysis by X-Ray Scattering - Softcover

Birkholz, Mario

 
9783527607594: Thin Film Analysis by X-Ray Scattering
Softcover
ISBN 10: 3527607595 ISBN 13: 9783527607594
Verlag: John Wiley & Sons, 2006

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Verlag
John Wiley & Sons
Erscheinungsdatum
2006
Sprache
Englisch
ISBN 10 
3527607595
ISBN 13 
9783527607594
Einband
Tapa blanda
Anzahl der Seiten
378
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ISBN 10:  3527310525 ISBN 13:  9783527310524
Verlag: Blackwell Verlag GmbH, 2005
Hardcover