Robust Design of Microelectronics Assemblies Against Mechanical Shock, Temperature and Moisture discusses how the reliability of packaging components is a prime concern to electronics manufacturers.
The text presents a thorough review of this important field of research, providing users with a practical guide that discusses theoretical aspects, experimental results, and modeling techniques.
The authors use their extensive experience to produce detailed chapters covering temperature, moisture, and mechanical shock induced failure, adhesive interconnects, and viscoelasticity. Useful program files and macros are also included.
Die Inhaltsangabe kann sich auf eine andere Ausgabe dieses Titels beziehen.
Dr Yiu-Wing Mai is Chair and Professor of Mechanical Engineering at the University of Sydney, Australia
„Über diesen Titel“ kann sich auf eine andere Ausgabe dieses Titels beziehen.
Anbieter: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, USA
Zustand: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide. Artikel-Nr. ABBB-93800
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
Zustand: Used. pp. 200. Artikel-Nr. 96160168
Anzahl: 1 verfügbar
Anbieter: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Deutschland
Zustand: Used. pp. 200. Artikel-Nr. 1897318525
Anzahl: 1 verfügbar
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Hardcover. Zustand: Brand New. 1st edition. 482 pages. 9.25x6.25x1.00 inches. In Stock. Artikel-Nr. __1845695283
Anzahl: 2 verfügbar