PMP�/CAPM� EXAM PREP: A Basic Guide to Activity-On-Node and Critical Path Method - Softcover

Das Purkayastha, Jayanta K.

9781614345046: PMP�/CAPM� EXAM PREP: A Basic Guide to Activity-On-Node and Critical Path Method

Softcover

ISBN 10: 161434504X ISBN 13: 9781614345046

Verlag: Booklocker.com, Inc., 2011

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A thorough and in-depth preparation guide for PMP� and CAPM� exams covering Precedence Diagramming Method/Activity-On-Node concepts and their analysis using Critical Path Method. This guide explains the concepts with illustrated examples with emphasis on special situations. Explanation of concepts through stepwise solved examples will provide readers hands-on ability for their application. This guide will serve as a launch pad for advanced study in this area beyond the requirements of the two exams.

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�ber die Autorin bzw. den Autor

Charlotte y Peter Fiell son dos autoridades en historia, teor�a y cr�tica del dise�o y han escrito m�s de sesenta libros sobre la materia, muchos de los cuales se han convertido en �xitos de ventas. Tambi�n han impartido conferencias y cursos como profesores invitados, han comisariado exposiciones y asesorado a fabricantes, museos, salas de subastas y grandes coleccionistas privados de todo el mundo. Los Fiell han escrito numerosos libros para TASCHEN, entre los que se incluyen 1000 Chairs, Dise�o del siglo XX, El dise�o industrial de la A a la Z, Scandinavian Design y Dise�o del siglo XXI.

��ber diesen Titel� kann sich auf eine andere Ausgabe dieses Titels beziehen.

Verlag: Booklocker.com, Inc.
Erscheinungsdatum: 2011
Sprache: Englisch
ISBN 10: 161434504X
ISBN 13: 9781614345046
Einband: Tapa blanda
Anzahl der Seiten: 118
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Pmp/Capm Exam Prep: A Basic Guide to Activity-on-node and Critical Path Method

Das Purkayastha, Jayanta K.

Verlag: Booklocker.Com Inc (edition First Edition), 2011

ISBN 10: 161434504X ISBN 13: 9781614345046

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