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Materials Reliability Issues in Microelectronics: Volume 225 (MRS Proceedings, Band 225) - Hardcover

Llyod, J. R.; Ho, P. S.; Fah, C. T.; Yost, E.

 
9781558991194: Materials Reliability Issues in Microelectronics: Volume 225 (MRS Proceedings, Band 225)
Hardcover
ISBN 10: 1558991190 ISBN 13: 9781558991194
Verlag: Materials Research Society, 1991

Inhaltsangabe

The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.

Die Inhaltsangabe kann sich auf eine andere Ausgabe dieses Titels beziehen.

Verlag
Materials Research Society
Erscheinungsdatum
1991
Sprache
Englisch
ISBN 10 
1558991190
ISBN 13 
9781558991194
Einband
Gebundene Ausgabe
Auflage
1
Anzahl der Seiten
354
Kontakt zum Hersteller
Nicht verfügbar
Verantwortliche Person
Avery
https://www.avery.fr/

chemin des peupliers 27
Dardilly
Frankreich