Verwandte Artikel zu Yield Simulation for Integrated Circuits

Yield Simulation for Integrated Circuits - Softcover

Walker, D.M.

 
9781475719321: Yield Simulation for Integrated Circuits
Softcover
ISBN 10: 1475719329 ISBN 13: 9781475719321
Verlag: Springer, 2013

Zu dieser ISBN ist aktuell kein Angebot verfügbar.

Inhaltsangabe

1. Introduction.- 2. Background.- 3. Defect Models.- 4. Defect Statistics.- 5. Fault Analysis.- 6. VLASIC Implementation.- 7. Redundancy Analysis System.- 8. Fabrication Data.- 9. Conclusions and Current Research.- References.

Die Inhaltsangabe kann sich auf eine andere Ausgabe dieses Titels beziehen.

Verlag
Springer
Erscheinungsdatum
2013
Sprache
Englisch
ISBN 10 
1475719329
ISBN 13 
9781475719321
Einband
Paperback
Kontakt zum Hersteller
Nicht verfügbar

(Keine Angebote verfügbar)

Buch Finden:



Kaufgesuch aufgeben

Sie kennen Autor und Titel des Buches und finden es trotzdem nicht auf ZVAB? Dann geben Sie einen Suchauftrag auf und wir informieren Sie automatisch, sobald das Buch verfügbar ist!

Kaufgesuch aufgeben

Weitere beliebte Ausgaben desselben Titels

9780898382440: Yield Simulation for Integrated Circuits: 33 (The Springer International Series in Engineering and Computer Science)

Vorgestellte Ausgabe

ISBN 10:  0898382440 ISBN 13:  9780898382440
Verlag: Springer, 1987
Hardcover