also in: THE KLUWER INTERNATIONAL SERIES ON ASIAN STUDIES IN COMPUTER AND INFORMATION SCIENCE, Volume 1
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Software Defect and Operational Profile Modeling | Kai-Yuan Cai | Taschenbuch | Einband - flex.(Paperback) | Englisch | 2012 | Springer Us | EAN 9781461375593 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Heidelberg, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, buchhandel-buch[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu. Artikel-Nr. 105720821
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - also in: THE KLUWER INTERNATIONAL SERIES ON ASIAN STUDIES IN COMPUTER AND INFORMATION SCIENCE, Volume 1. Artikel-Nr. 9781461375593
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