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Oscillation-Based Test in Mixed-Signal Circuits: 36 (Frontiers in Electronic Testing) - Hardcover

 
9781402053146: Oscillation-Based Test in Mixed-Signal Circuits: 36 (Frontiers in Electronic Testing)

Inhaltsangabe

This book presents the development and experimental validation of the structural test strategy called Oscillation-Based Test - OBT in short. The results presented here assert, not only from a theoretical point of view, but also based on a wide experimental support, that OBT is an efficient defect-oriented test solution, complementing the existing functional test techniques for mixed-signal circuits.

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Über die Autorin bzw. den Autor

Prof. José Luis Huertas is Director of the Instituto de Microelectronica de Sevilla in Spain. He has edited one book on Testing for Kluwer, that published in October 2004, and was series editor for the three book series from the European Mixed-Signal Initiative for Electronic System Design.

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9789048173365: Oscillation-Based Test in Mixed-Signal Circuits: 36 (Frontiers in Electronic Testing)

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ISBN 10:  9048173361 ISBN 13:  9789048173365
Verlag: Springer, 2010
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Huertas Sanchez, Gloria et al
Verlag: Dordrecht, Springer., 2006
ISBN 10: 1402053142 ISBN 13: 9781402053146
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Buch. Zustand: Neu. Neuware -Oscillation-Based Test in Mixed-Signal Circuits presents the development and experimental validation of the structural test strategy called Oscillation-Based Test ¿ OBT in short. The results here presented allow to assert, not only from a theoretical point of view, but also based on a wide experimental support, that OBT is an efficient defect-oriented test solution, complementing the existing functional test techniques for mixed-signal circuits.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 472 pp. Englisch. Artikel-Nr. 9781402053146

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Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Oscillation-Based Test in Mixed-Signal Circuits presents the development and experimental validation of the structural test strategy called Oscillation-Based Test - OBT in short. The results here presented allow to assert, not only from a theoretical point of view, but also based on a wide experimental support, that OBT is an efficient defect-oriented test solution, complementing the existing functional test techniques for mixed-signal circuits. Artikel-Nr. 9781402053146

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Huertas Sánchez, Gloria; Vázquez García De La Vega, Diego; Rueda Rueda, Adoración; Huertas Díaz, Jose Luis
Verlag: Springer, 2006
ISBN 10: 1402053142 ISBN 13: 9781402053146
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