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Inhaltsangabe
The first section of volume II deals with both theory and methods of morphological analysis, it then discusses data analysis, and finally, the applications.
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Über die Autorin bzw. den Autor
J.K. Beddow
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Particle Characterization in Technology: Volume II: Morphological Analysis
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
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Zustand: New. Artikel-Nr. 379507367
Anzahl: 3 verfügbar