Advanced Materials Characterization: Basic Principles, Novel Applications, and Future Directions (Advanced Materials Processing and Manufacturing) - Softcover
Inhaltsangabe
The book covers various methods of characterization of advanced materials commonly used in engineering including understanding of the working principle and applicability of devices. Major instruments covered include X-Ray Diffraction, NSOM Raman, X-Ray Photo Spectroscopy, UV-VIS- NIR Spectrosphotometer, FTIR Spectroscopy, and so forth.
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Advanced Materials Characterization
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ADVANCED MATERIALS CHARACTERIZATION
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Advanced Materials Characterization | Basic Principles, Novel Applications, and Future Directions
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Advanced Materials Characterization | Basic Principles, Novel Applications, and Future Directions | Ch Sateesh Kumar (u. a.) | Taschenbuch | Einband - flex.(Paperback) | Englisch | 2024 | CRC Press | EAN 9781032375113 | Verantwortliche Person für die EU: Libri GmbH, Europaallee 1, 36244 Bad Hersfeld, gpsr[at]libri[dot]de | Anbieter: preigu. Artikel-Nr. 130236219
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