Reliability and Yield Problems of Wire Bonding in Microelectronics: The Application of Materials and Interface Science - Hardcover
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Reliability and Yield Problems of Wire Bonding in Microelectronics : The Application of Materials and Interface Science
Verlag:
International Society for Hybrid Microelectronics, 1989
ISBN 10: 0930815254
ISBN 13: 9780930815257
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Hardcover
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Reliability and Yield Problems of Wire Bonding in Microelectronics: The Application of Materials and Interface Science
Anbieter: ThriftBooks-Dallas, Dallas, TX, USA
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