Electron and Ion Microscopy and Microanalysis: Principles and Applications, Second Edition,: 29 (Optical Science and Engineering) - Hardcover

 
9780824785567: Electron and Ion Microscopy and Microanalysis: Principles and Applications, Second Edition,: 29 (Optical Science and Engineering)

Inhaltsangabe

The publication date of the first edition is not stated, but the new edition is apparently considerably revised and expanded. It was written to serve as a multi-purpose text at the senior or graduate level and as a reference for the practicing scientist or engineer. Readers should have a math backgr

Die Inhaltsangabe kann sich auf eine andere Ausgabe dieses Titels beziehen.

Über die Autorin bzw. den Autor

Lawrence E. Murr

„Über diesen Titel“ kann sich auf eine andere Ausgabe dieses Titels beziehen.

Weitere beliebte Ausgaben desselben Titels

9780367402945: Electron and Ion Microscopy and Microanalysis: Principles and Applications, Second Edition,: 29 (Optical Science and Engineering)

Vorgestellte Ausgabe

ISBN 10:  0367402947 ISBN 13:  9780367402945
Verlag: CRC Press, 2019
Softcover