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Inhaltsangabe
"Introduces a theory of random testing in digital circuits for the first time and offers practical guidance for the implementation of random pattern generators, signature analyzers design for random testability, and testing results. Contains several new and unpublished results. "
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Über die Autorin bzw. den Autor
Rene David is a Research Director at the Centre National de la recherche Scientififique working at the Instuit National Polytechnique de Grenoble, France.
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- VerlagCRC Press
- Erscheinungsdatum1998
- ISBN 10 0824701828
- ISBN 13 9780824701826
- EinbandTapa dura
- SpracheEnglisch
- Auflage1
- Anzahl der Seiten500
- Kontakt zum HerstellerNicht verfügbar
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Random Testing of Digital Circuits : Theory and Applications
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Zustand: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 496 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher. Artikel-Nr. 1244488/202
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Random Testing of Digital Circuits : Theory and Application
Verlag:
Marcel Dekker Inc., New York, NY, U.S.A., 1998
ISBN 10: 0824701828
ISBN 13: 9780824701826
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Random Testing of Digital Circuits: Theory and Applications
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
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Hardcover. Zustand: Brand New. 1st edition. 475 pages. 10.00x6.50x1.00 inches. In Stock. Artikel-Nr. __0824701828
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Random Testing of Digital Circuits : Theory and Applications
Verlag:
Taylor & Francis Inc Apr 1998, 1998
ISBN 10: 0824701828
ISBN 13: 9780824701826
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Hardcover
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
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Buch. Zustand: Neu. Neuware - 'Introduces a theory of random testing in digital circuits for the first time and offers practical guidance for the implementation of random pattern generators, signature analyzers design for random testability, and testing results. Contains several new and unpublished results. '. Artikel-Nr. 9780824701826
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