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Digital Systems Testing Revised - Hardcover

 
9780780310629: Digital Systems Testing Revised

Inhaltsangabe

Páginas:672Géneros:12:THR:Electricalengineering12:TJF:Electronicsengineering12:TJFC:Circuits&componentsSinopsis:

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Reseña del editor

This updated printing of the leading text and reference in digital systems testing and testable design provides comprehensive, state-of-the-art coverage of the field. Included are extensive discussions of test generation, fault modeling for classic and new technologies, simulation, fault simulation, design for testability, built-in self-test, and diagnosis. Complete with numerous problems, this book is a must-have for test engineers, ASIC and system designers, and CAD developers, and advanced engineering students will find this book an invaluable tool to keep current with recent changes in the field.

Contraportada

This widely-used textbook provides comprehensive, state-of-the-art coverage of digital systems testing and testable design.

Considered a definitive text in this area, the book includes in-depth discussions of the following topics:

Test generation
Fault modeling for classic and new technologies
Simulation
Fault simulation
Design for testability
Built-in self-test Diagnosis

All topics are covered extensively, from fundamental concepts to advanced techniques.

Successfully used world-wide at leading universities, the book is appropriate for graduate-level and senior-level undergraduate courses. Numerous examples and problems help make the learning process easier for the reader. Test engineers, ASIC and system designers, and CAD developers will find it an invaluable tool to keep current with recent changes in the field.

„Über diesen Titel“ kann sich auf eine andere Ausgabe dieses Titels beziehen.

  • VerlagJohn Wiley & Sons
  • Erscheinungsdatum1994
  • ISBN 10 0780310624
  • ISBN 13 9780780310629
  • EinbandTapa dura
  • SpracheEnglisch
  • Anzahl der Seiten672

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Zustand: New. &Uumlber den AutorMiron Abramovici is a Distinguished Member of the Technical Staff at AT&ampT Bell Laboratories in Murray Hill, and an Adjunct Professor of Computer Engineering at the Illinois Institute of Technology in Chicago. Melvi. Artikel-Nr. 447062051

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