This edited volume, first published in 2007, comprehensively covers the focused ion beam and two beam technology.
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NAN YAO holds several positions at Princeton University, New Jersey. He is director of the Imaging and Analysis Center; Senior Research Scholar at the Institute for the Science and Technology of Materials; and a lecturer in Mechanical and Aerospace Engineering.
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Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Zustand: New. In. Artikel-Nr. ria9780521831994_new
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Anbieter: Kennys Bookstore, Olney, MD, USA
Zustand: New. This edited volume, first published in 2007, comprehensively covers the focused ion beam and two beam technology. Editor(s): Nan, Yao. Num Pages: 408 pages, 196 b/w illus. BIC Classification: TBN; TGM; TJF. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 180 x 252 x 29. Weight in Grams: 862. . 2007. 1st Edition. hardcover. . . . . Books ship from the US and Ireland. Artikel-Nr. V9780521831994
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Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Hardcover. Zustand: Brand New. 1st edition. 395 pages. 9.75x7.00x1.00 inches. In Stock. Artikel-Nr. x-0521831997
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