This 2005 book covers principles and techniques of EMPA and SEM for geological graduate students and postdoctoral workers.
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Anbieter: Hamelyn, Madrid, M, Spanien
Zustand: Muy bueno. : Este libro, actualizado para cubrir los desarrollos recientes, abarca las técnicas estrechamente relacionadas del análisis de microsonda electrónica (EMPA) y la microscopía electrónica de barrido (SEM) específicamente desde un punto de vista geológico. Los temas tratados incluyen: principios de las interacciones electrón-blanco, instrumentación de haz de electrones, espectrometría de rayos X, principios generales de la formación de imágenes SEM, producción de 'mapas' de rayos X que muestran distribuciones elementales, procedimientos para el análisis cualitativo y cuantitativo de rayos X (tanto de dispersión de energía como de dispersión de longitud de onda), el uso de 'verdaderas' microsondas electrónicas y SEM equipados con espectrómetros de rayos X, y asuntos prácticos como la preparación de muestras y el tratamiento de resultados. Se hace hincapié en los aspectos geológicos no mencionados en libros similares dirigidos a un público más general. El libro evita detalles técnicos innecesarios para ser fácilmente accesible, y forma un texto actualizado sobre EMPA y SEM para investigadores geológicos de postgrado y postdoctorado, así como para aquellos que trabajan en laboratorios industriales. EAN: 9780521142304 Tipo: Libros Categoría: Ciencias Título: Electron Microprobe Analysis and Scanning Electron Microscopy in Geology Autor: S. J. B. Reed Idioma: en Páginas: 212. Artikel-Nr. Happ-2026-08-04-f528f450
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Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Zustand: New. In. Artikel-Nr. ria9780521142304_new
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Anbieter: Kennys Bookstore, Olney, MD, USA
Zustand: New. This 2005 book covers principles and techniques of EMPA and SEM for geological graduate students and postdoctoral workers. Num Pages: 212 pages, 260 b/w illus. 8 colour illus. BIC Classification: PDND; RB. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly. Dimension: 244 x 172 x 12. Weight in Grams: 350. . 2010. 2nd Edition. Paperback. . . . . Books ship from the US and Ireland. Artikel-Nr. V9780521142304
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Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Originally published in 2005, this book covers the closely related techniques of electron microprobe analysis (EMPA) and scanning electron microscopy (SEM) specifically from a geological viewpoint. Topics discussed include: principles of electron-target interactions, electron beam instrumentation, X-ray spectrometry, general principles of SEM image formation, production of X-ray 'maps' showing elemental distributions, procedures for qualitative and quantitative X-ray analysis (both energy-dispersive and wavelength-dispersive), the use of both 'true' electron microprobes and SEMs fitted with X-ray spectrometers, and practical matters such as sample preparation and treatment of results. Throughout, there is an emphasis on geological aspects not mentioned in similar books aimed at a more general readership. The book avoids unnecessary technical detail in order to be easily accessible, and forms a comprehensive text on EMPA and SEM for geological postgraduate and postdoctoral researchers, as well as those working in industrial laboratories. Artikel-Nr. 9780521142304
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