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Inhaltsangabe
A classic series in the field of quantitative measurement, Volume I introduces the distinct mathematical results that serve to formulate numerical representations of qualitative structures. Volume II extends the subject in the direction of geometrical, threshold, and probabilistic representations, and Volume III examines representation as expressed in axiomatization and invariance. 1989 edition.
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Über die Autorin bzw. den Autor
David H. Krantz is affiliated with Columbia University; R. Duncan Luce with the University of California, Irvine, and Patrick Suppes with Stanford University. Amos Tversky is deceased.
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Geometrical, Threshold, and Probabilistic Representations
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Zustand: New. Über den AutorDavid H. Krantz is affiliated with Columbia University R. Duncan Luce with the University of California, Irvine, and Patrick Suppes with Stanford University. Amos Tversky is deceased.Klappentext. Artikel-Nr. 898069475
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Foundations of Measurement Volume II : Geometrical, Threshold, and Probabilistic Representations Volume 2
Verlag:
Dover Publications Dez 2006, 2006
ISBN 10: 0486453154
ISBN 13: 9780486453156
Neu
Taschenbuch
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Neuware - All of the sciences have a need for quantitative measurement. This influential series established the formal foundations for measurement, justifying the assignment of numbers to objects in terms of their structural correspondence. 1989 edition. Artikel-Nr. 9780486453156
Anzahl: 2 verfügbar