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Inhaltsangabe
This volume reflects the rapid evolution of surface analysis techniques involving ion and neural spectroscopies. Sputtering techniques are comprehensively discussed in chapters covering instrumentation, theory, quantification, dynamic and static SIMS and various applications.
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Reseña del editor
This volume reflects the rapid evolution of surface analysis techniques involving ion and neural spectroscopies. Sputtering techniques are comprehensively discussed in chapters covering instrumentation, theory, quantification, dynamic and static SIMS and various applications.
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- VerlagJohn Wiley & Sons Ltd
- Erscheinungsdatum1996
- ISBN 10 0471964980
- ISBN 13 9780471964988
- EinbandTapa blanda
- SpracheEnglisch
- Anzahl der Seiten756
- Kontakt zum HerstellerNicht verfügbar
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