Reliability and Degradation: Semiconductor Devices and Circuits (Wiley Series in Solid State Devices & Circuits) - Hardcover

Howes, M. J.; Morgan, David Vernon

9780471280286: Reliability and Degradation: Semiconductor Devices and Circuits (Wiley Series in Solid State Devices & Circuits)

Hardcover

ISBN 10: 0471280283 ISBN 13: 9780471280286

Verlag: John Wiley & Sons Ltd, 1981

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Details zur Ausgabe

Verlag: John Wiley & Sons Ltd
Erscheinungsdatum: 1981
Sprache: Englisch
ISBN 10: 0471280283
ISBN 13: 9780471280286
Einband: Gebundene Ausgabe
Anzahl der Seiten: 456
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Reliability and Degradation: Semiconductor Devices and Circuits (Wiley Series in Solid State Devices and Circuits)

Howes, M. J.

Verlag: Wiley�"Blackwell, 1981

ISBN 10: 0471280283 ISBN 13: 9780471280286

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