X-ray Diffraction at Elevated Temperatures: A Method for In Situ Process Analysis

0 durchschnittliche Bewertung
( 0 Bewertungen bei GoodReads )
 
9780471187264: X-ray Diffraction at Elevated Temperatures: A Method for In Situ Process Analysis
Vom Verlag:

In light of the growing importance and availability of intense x-ray sources and position-sensitive detectors, this book offers comprehensive treatment of the principles, instrumentation, and applications of x-ray diffraction at elevated temperatures. Coverage explores the uses of intense x-ray sources and position-sensitive detectors for assessing these sources, and offers comparisons with complementary thermal analysis techniques (differential scanning calorimetry, thermogravimetric analysis, thermal mechanical analysis) for carrying out phase identification, texture analysis, and grain size measurement by way of in situ process analysis at elevated temperatures in a broad range of fields, including crystallography, thermal analysis, materials science, chemical and electrical analysis.

„Über diesen Titel“ kann sich auf eine andere Ausgabe dieses Titels beziehen.

(Keine Angebote verfügbar)

Buch Finden:



Kaufgesuch aufgeben

Sie kennen Autor und Titel des Buches und finden es trotzdem nicht auf ZVAB? Dann geben Sie einen Suchauftrag auf und wir informieren Sie automatisch, sobald das Buch verfügbar ist!

Kaufgesuch aufgeben