Inhaltsangabe
Applies the methods of modern quality to the testing of digital integrated circuits. Explains new paradigms and techniques ranging from SSI to high-level VLSI, and how to match testing methods to the design and physical layout of the device. Accounts for the change in the electronics industry from a
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Digital Integrated Circuit Testing from a Quality Perspective (Electrical Engineering)
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Digital Integrated Circuit Testing from a Quality Perspective
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Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Applies the methods of modern quality to the testing of digital integrated circuits. Explains new paradigms and techniques ranging from SSI to high-level VLSI, and how to match testing methods to the design and physical layout of the device. Accounts for the change in the electronics industry from a. Artikel-Nr. 9780442006433
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