Inhaltsangabe
Applies the methods of modern quality to the testing of digital integrated circuits. Explains new paradigms and techniques ranging from SSI to high-level VLSI, and how to match testing methods to the design and physical layout of the device. Accounts for the change in the electronics industry from a
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Digital Integrated Circuit Testing from a Quality Perspective
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Digital Integrated Circuit Testing from a Quality Perspective
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Digital Integrated Circuit Testing from a Quality Perspective (Electrical Engineering)
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Digital Integrated Circuit Testing from a Quality Perspective
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Buch. Zustand: Neu. Digital Integrated Circuit Testing from a Quality Perspective | Eugene R. Hnatek | Buch | Einband - fest (Hardcover) | Englisch | 1993 | Humana | EAN 9780442006433 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Heidelberg, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, buchhandel-buch[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu. Artikel-Nr. 102503823
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Digital Integrated Circuit Testing from a Quality Perspective
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
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Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Applies the methods of modern quality to the testing of digital integrated circuits. Explains new paradigms and techniques ranging from SSI to high-level VLSI, and how to match testing methods to the design and physical layout of the device. Accounts for the change in the electronics industry from a. Artikel-Nr. 9780442006433
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Digital Integrated Circuit Testing from a Quality Perspective
Verlag:
Springer US, Springer Aug 1993, 1993
ISBN 10: 0442006438
ISBN 13: 9780442006433
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Buch. Zustand: Neu. Neuware -Applies the methods of modern quality to the testing of digital integrated circuits. Explains new paradigms and techniques ranging from SSI to high-level VLSI, and how to match testing methods to the design and physical layout of the device. Accounts for the change in the electronics industry from a 194 pp. Englisch. Artikel-Nr. 9780442006433
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