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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits - Softcover

 
9780387516530: Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Softcover
ISBN 10: 0387516530 ISBN 13: 9780387516530

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Sprache
Englisch
ISBN 10 
0387516530
ISBN 13 
9780387516530
Einband
Tapa blanda
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ISBN 10:  0387465464 ISBN 13:  9780387465463
Verlag: Springer, 2007
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