Inhaltsangabe
Halbleiteroberflächen und Schnittstellen befasst sich mit strukturellen und elektronischen Eigenschaften von Halbleiteroberflächen und -grenzflächen.
Der erste Teil stellt die allgemeinen Aspekte von Raumladungsschichten, von sauberen Oberflächen- und Adatom-enthaltenen Oberflächenzuständen und von Schnittstellenzuständen vor. Es folgt eine Präsentation experimenteller Ergebnisse auf sauberen und adatombedeckten Oberflächen, die anhand einfacher physikalischer und chemischer Konzepte und Modelle erklärt werden. Soweit verfügbar, werden Ergebnisse verfeinerter Berechnungen berücksichtigt. Ein letztes Kapitel widmet sich der Bandreihe an Halbleiterschnittstellen.
Die Inhaltsangabe kann sich auf eine andere Ausgabe dieses Titels beziehen.
