Verwandte Artikel zu Logic Testing and Design for Testability (Computer...

Logic Testing and Design for Testability (Computer Systems Series) - Softcover

 
9780262561990: Logic Testing and Design for Testability (Computer Systems Series)

Inhaltsangabe

Design for testability techniques offer one approach toward alleviating this situation by adding enough extra circuitry to a circuit or chip to reduce the complexity of testing.

Die Inhaltsangabe kann sich auf eine andere Ausgabe dieses Titels beziehen.

Über die Autorin bzw. den Autor

Hideo Fujiwara is an associate professor in the Department of Electronics and Communication, Meiji University.

„Über diesen Titel“ kann sich auf eine andere Ausgabe dieses Titels beziehen.

  • VerlagMIT Press
  • Erscheinungsdatum1985
  • ISBN 10 0262561999
  • ISBN 13 9780262561990
  • EinbandTapa blanda
  • SpracheEnglisch
  • Anzahl der Seiten304
  • Kontakt zum HerstellerNicht verfügbar

EUR 11,81 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach Deutschland

Versandziele, Kosten & Dauer

Weitere beliebte Ausgaben desselben Titels

9780262060967: Logic Testing and Design for Testability (Computer Systems Series)

Vorgestellte Ausgabe

ISBN 10:  0262060965 ISBN 13:  9780262060967
Verlag: MIT Press, 1985
Hardcover

Suchergebnisse für Logic Testing and Design for Testability (Computer...

Beispielbild für diese ISBN

Fujiwara, Hideo
Verlag: Mit Pr, 1985
ISBN 10: 0262561999 ISBN 13: 9780262561990
Neu Hardcover

Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich

Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen 5 Sterne, Erfahren Sie mehr über Verkäufer-Bewertungen

Hardcover. Zustand: Brand New. 298 pages. 8.90x5.98x0.87 inches. In Stock. Artikel-Nr. x-0262561999

Verkäufer kontaktieren

Neu kaufen

EUR 52,33
Währung umrechnen
Versand: EUR 11,81
Von Vereinigtes Königreich nach Deutschland
Versandziele, Kosten & Dauer

Anzahl: 2 verfügbar

In den Warenkorb