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Inhaltsangabe
Design for testability techniques offer one approach toward alleviating this situation by adding enough extra circuitry to a circuit or chip to reduce the complexity of testing.
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Über die Autorin bzw. den Autor
Hideo Fujiwara is an associate professor in the Department of Electronics and Communication, Meiji University.
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- VerlagMIT Press
- Erscheinungsdatum1985
- ISBN 10 0262561999
- ISBN 13 9780262561990
- EinbandTapa blanda
- SpracheEnglisch
- Anzahl der Seiten304
- Kontakt zum HerstellerNicht verfügbar
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Logic Testing and Design for Testability
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Hardcover. Zustand: Brand New. 298 pages. 8.90x5.98x0.87 inches. In Stock. Artikel-Nr. x-0262561999
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