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Logic Testing and Design for Testability (Computer Systems Series) - Softcover

Fujiwara, Hideo

 
9780262561990: Logic Testing and Design for Testability (Computer Systems Series)
Softcover
ISBN 10: 0262561999 ISBN 13: 9780262561990
Verlag: MIT Press, 1985
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Reseña del editor:
Design for testability techniques offer one approach toward alleviating this situation by adding enough extra circuitry to a circuit or chip to reduce the complexity of testing.
Biografía del autor:
Hideo Fujiwara is an associate professor in the Department of Electronics and Communication, Meiji University.

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  • VerlagMIT Press
  • Erscheinungsdatum1985
  • ISBN 10 0262561999
  • ISBN 13 9780262561990
  • EinbandTapa blanda
  • Anzahl der Seiten304

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