Advanced Tomographic Methods in Materials Research and Engineering [With CDROM] (Monographs on the Physics and Chemistry of Materials, Band 66) - Hardcover

Buch 6 von 11: Monographs on the Physics and Chemistry of Materials
 
9780199213245: Advanced Tomographic Methods in Materials Research and Engineering [With CDROM] (Monographs on the Physics and Chemistry of Materials, Band 66)
Hardcover
ISBN 10: 0199213240 ISBN 13: 9780199213245
Verlag: OXFORD UNIV PR, 2008

Inhaltsangabe

This book, written for applied physicists, materials scientists and engineers, discusses recent developments in the field, such as the extension of tomographic methods to materials research and engineering.

Die Inhaltsangabe kann sich auf eine andere Ausgabe dieses Titels beziehen.

Über die Autorin bzw. den Autor


John Banhart - Editor
Professor for Materials Science at Technical University Berlin and
Head of the Department of Materials Research at Hahn-Meitner Institute Berlin
1984: Degree in Physics, University of Munich

1989: PhD in Physical Chemistry, University of Munich

1990: Postdoc at University of Vienna

1998: Habilitation (2nd PhD) in Solid State Physics, University of Bremen

1991-2001: Senior Scientist at Fraunhofer-Institute for Materials Research Bremen

2002: Current Position

„Über diesen Titel“ kann sich auf eine andere Ausgabe dieses Titels beziehen.

Verlag
OXFORD UNIV PR
Erscheinungsdatum
2008
Sprache
Englisch
ISBN 10 
0199213240
ISBN 13 
9780199213245
Einband
Gebundene Ausgabe
Anzahl der Seiten
462
Herausgeber
Banhart John
Kontakt zum Hersteller
Nicht verfügbar
Verantwortliche Person
Penguin Random House Ireland Limited
productsafety@penguin.co.uk

Morrison Chambers, 32 Nassau Street
Dublin
Irland