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Developments in Integrated Circuit Testing
Anbieter: Zubal-Books, Since 1961, Cleveland, OH, USA
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Developments in Integrated Circuit Testing (Perspectives in Computing)
Verlag:
Academic Press Inc.,U.S., 1987
ISBN 10: 0124967353
ISBN 13: 9780124967359
Gebraucht
Hardcover
Anbieter: Ammareal, Morangis, Frankreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Hardcover. Zustand: Bon. Ancien livre de bibliothèque. Traces de pliures sur la couverture. Traces d'usure sur la couverture. Couverture différente. Edition 1987. Ammareal reverse jusqu'à 15% du prix net de cet article à des organisations caritatives. ENGLISH DESCRIPTION Book Condition: Used, Good. Former library book. Traces of creases on the cover. Signs of wear on the cover. Different cover. Edition 1987. Ammareal gives back up to 15% of this item's net price to charity organizations. Artikel-Nr. E-065-919
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