Fehlerdiagnose für Schaltnetze aus Modulen mit partiell injektiven Pfadfunktionen: 139 (Informatik-Fachberichte) - Softcover
Zu dieser ISBN ist aktuell kein Angebot verfügbar.
Alle Exemplare der Ausgabe mit dieser ISBN anzeigen:
Reseña del editor:
In dieser Monographie werden Verfahren zur modularen Testerzeugung für Schaltnetze entwickelt. Ausgehend von einer Beschreibung der modularen Schaltung und den Tests für die einzelnen Module bestimmen diese Verfahren den Test für die modulare Schaltung. Die Arbeit geht in diesem Zusammenhang auch auf den prüfgerechten Entwurf modularer Schaltungen ein. In Analogie zum klassischen sensibilisierten Pfad, der 1 Bit Testinformation weiterleiten kann, wird der Pfadbegriff auf die parallele Weiterleitung von k Bit Testinformation verallgemeinert. Die Arbeit formalisiert dazu mehrere Klassen von partiell injektiven Pfadfunktionen; daraus werden Kriterien für die Mindesteigenschaften von pfadbildenden Modulen und Algorithmen zum Bilden solcher k-Bit-Pfade abgeleitet. Ziel des Buches ist es, Modultests, die mit speziellen Fehlermodellen und Verfahren in hoher Qualität erzeugbar sind, auch in umfangreichen, modularen Schaltungen anzuwenden. Das Buch liefert dafür die theoretischen Grundlagen und die wesentlichen Algorithmen, die in einer Teilimplementierung auch erprobt wurden.
„Über diesen Titel“ kann sich auf eine andere Ausgabe dieses Titels beziehen.
- VerlagSpringer
- Erscheinungsdatum1987
- ISBN 10 3540179380
- ISBN 13 9783540179382
- EinbandTapa blanda
- Anzahl der Seiten188
Neu kaufen
Mehr zu diesem Angebot erfahren
EUR 54,99
Versand:
EUR 32,99
Von Deutschland nach USA
Beste Suchergebnisse beim ZVAB
Foto des Verkäufers
Fehlerdiagnose für Schaltnetze aus Modulen mit partiell injektiven Pfadfunktionen
Verlag:
Springer Berlin Heidelberg
(1987)
ISBN 10: 3540179380
ISBN 13: 9783540179382
Neu
Taschenbuch
Anzahl: 1
Anbieter:
Bewertung
Buchbeschreibung Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - In dieser Monographie werden Verfahren zur modularen Testerzeugung für Schaltnetze entwickelt. Ausgehend von einer Beschreibung der modularen Schaltung und den Tests für die einzelnen Module bestimmen diese Verfahren den Test für die modulare Schaltung. Die Arbeit geht in diesem Zusammenhang auch auf den prüfgerechten Entwurf modularer Schaltungen ein. In Analogie zum klassischen sensibilisierten Pfad, der 1 Bit Testinformation weiterleiten kann, wird der Pfadbegriff auf die parallele Weiterleitung von k Bit Testinformation verallgemeinert. Die Arbeit formalisiert dazu mehrere Klassen von partiell injektiven Pfadfunktionen; daraus werden Kriterien für die Mindesteigenschaften von pfadbildenden Modulen und Algorithmen zum Bilden solcher k-Bit-Pfade abgeleitet. Ziel des Buches ist es, Modultests, die mit speziellen Fehlermodellen und Verfahren in hoher Qualität erzeugbar sind, auch in umfangreichen, modularen Schaltungen anzuwenden. Das Buch liefert dafür die theoretischen Grundlagen und die wesentlichen Algorithmen, die in einer Teilimplementierung auch erprobt wurden. Artikel-Nr. 9783540179382
Weitere Informationen zu diesem Verkäufer | Verkäufer kontaktieren
Neu kaufen
EUR 54,99
Währung umrechnen