Anwendungen der hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse - Softcover
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- VerlagVs Verlag Fur Sozialwissenschaften
- Erscheinungsdatum1981
- ISBN 10 3531030493
- ISBN 13 9783531030494
- EinbandTapa blanda
- Anzahl der Seiten28
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Anwendungen der hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse. ; Klaus-Dieter Klöppel
Verlag:
Opladen : Westdeutscher Verlag
(1981)
ISBN 10: 3531030493
ISBN 13: 9783531030494
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Buchbeschreibung kart. Zustand: Gut. 23 S. : 14 graph. Darst. ; 24 cm Exemplar aus einer wissenchaftlichen Bibliothek Sprache: Deutsch Gewicht in Gramm: 550. Artikel-Nr. 354093
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